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MEIRS a participé au 11ième Symposium International sur les contrôles non destructifs dans l’aéronautique les 13, 14 et 15 novembre à Saclay en région parisienne. Organisé par la COFREND et le CEA List, ce symposium a permis de communiquer sur les dernières avancées en matière de R&D et de méthodes innovantes.
Environ 200 participants sont venus à Saclay et ont assisté à une centaine de présentations scientifiques et techniques.
En parallèle des conférences, 24 industriels, dont la société MEIRS, ont exposé leurs équipements et savoir-faire.
A cette occasion MEIRS a présenté sur son stand son savoir-faire dans la réalisation de défauts calibrés et de maquettes pour les études, développements, calibrages et étalonnages en matière d’équipements et de technologie de contrôle (US, CF, Rayons X).
MEIRS a également exposé son expérience en C.A.0 / F.A.O / réalisation de pièces mécaniques de précision au service des intégrateurs et maîtres d’œuvre du secteur.